♦ Axometrics偏光測定儀，為目前偏極化量測中快速的測量系統。

♦ 快速測量快軸方位角度（Fast-axis Orientation）、相位延遲（Retardance）、偏光（Polarization）。

♦ 線性/橢圓/圓形的偏極化測量

♦ 多波長Retardance頻譜的RO(400-800nm)

♦ 快速測量Biaxial Films Ro、Rth和 B。

♦ 具有旋轉／傾斜機構，于測量時旋轉角度可掌握。

♦ 無須裁切待測物（Sample)

♦ 操作容易的軟體介面

♦ 客制化測量模組組合

♦ 配合CCD影像系統及光學鏡頭，可測量各樣品中微觀區域內的各項參數

♦ 多波長延遲片／相位差板（In Plate or Out of Plate）測量

♦ 偏光片（板）測量多層膜（Ro,Rth，B）

♦ 快軸方位角度測量（Fast Axis Orlentatlon)

♦ LCOS晶圓Retardance和電壓特性關係的測量

♦ 液晶（LCD）、LCOS Cell Gap的測量。

♦ 液晶（LCD) Pretlltangle 的測量

♦ 3D Film的測量。（FPR)

♦ 多面向的LCD的量測（PSVA Multi一Domain)

Poincare sphere 顯示可更清楚的瞭解光的偏極化狀態可量測出不同波長(400-800nm)下的相位差值波長的分散性。

Rth 值測量差距時具有可調控之校正機制，精密度高。

高速的測量可幫助各種補償膜的發展研究。