HP1000G-PM可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在    30℃ ~ 1000℃ 範圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個氣密腔，可往內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品高溫下氧化，也可通入不同氣氛進行氣敏性測試。

迷你高溫探針台，可用於    顯微鏡/光譜儀

30℃~1000℃    可編程式控制溫

16 mm x 16    mm加熱區

可充入保護氣體的氣密腔

BNC介面四探針，手動點針    *可選三同軸介面，用於pA級測試

可選增設腔內接線柱（樣品接電引線）

可從溫控器或電腦軟體控制，可提供軟體SDK

*可做定制或改動，詳詢上海恒商

溫度範圍

30℃ ~ 1000℃

感測器/溫控方式

K型熱電偶    / PID控制

加熱/製冷速度

+200℃/min    （100℃時）

加熱/製冷速度

±0.01℃/min

溫度解析度

0.2℃

溫度穩定性

±1℃

軟體功能

可設溫控速率，可設溫控程式，可記錄溫控曲線

探針

默認為錸鎢材質的彎針探針

探針座

杠杆式探針支架，點針力度更大，電接觸性更好

點針

手動點針，每個探針座都可點到樣品區上任意位置

探針介面

預設為BNC接頭，可選三同軸介面

*可增設腔內接線柱（樣品接電引線）

樣品檯面電位

默認為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸介面

非磁性改造

台體可改用非磁性材質製造，用於變溫霍爾效應探針測試

適用光路

反射光路    *另有透射光路型號

物鏡工作距離

9.6 mm  *截面圖中WD

聚光鏡工作距離

15.0 mm（僅透射光路型號）     *截面圖中CWD

透光孔

φ2 mm（僅透射光路型號）     *截面圖中φVA

上蓋窗片觀察

窗片範圍φ38mm，視角±61.5°     *截面圖中θ1

底部窗片觀察

視角±11.3°     *截面圖中θ2

加熱區/樣品區

25 mm x 25    mm

樣品腔高

7.6 mm    *樣品厚度由探針決定

放樣

打開上蓋後置入樣品再點針，關上蓋後無法移動探針

氣氛控制

氣密腔，可充入保護氣體

外殼冷卻

通迴圈水，以維持外殼溫度在常溫附近

窗片與物鏡冷卻

吹氣降溫管路

安裝方式

水準安裝    或 垂直安裝

台體尺寸/重量

200 mm x    145 mm x 35 mm / 1500g